• English
  • Кыргызча
  • Русский
Статс-секретарь Кыргызпатента Бакыт Кененбаев принял участие в IX Международной конференции "Методология мониторинга и оценки программ" в г. Киеве
Жарыяланган күнү : 
30/09/2009

Статс-секретарь Государственной патентной службы КР Бакыт Кененбаев принял участие в IX Международной конференции “Методология мониторинга и оценки программ”, проходившей в г. Киеве (Украина) 25-26 сентября 2009 года.

Мероприятие организовано Международной Сетью «Оценка Программ» и Творческим центром ТЦК.

Данная конференция посвящена методологии мониторинга и оценки программ. Особое внимание на конференции было уделено подходам Европейского Союза к проведению мониторинга и оценки.

На конференции рассматривались методология и инструменты оценки государственных программ, программ технической помощи, социальных программ бизнеса, программ некоммерческих организаций, а также подходы и критерии Европейского Союза в сфере оценки программ и проектов.